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J-GLOBAL ID：200902280063733312   Reference number：09A0129150

30nm以下粒子除去フィルターの新規定格方法 DLS/ICP-MSを用いたナノ粒子除去性能評価

Author (1)： MIZUNO TAKEHITO (日本ポール)
Material： クリーンテクノロジー  (Clean Technology)
Volume： 19  Issue： 2  Page： 45-48  Publication year： Feb. 10, 2009 
JST Material Number： L1138A  ISSN： 0917-1819  CODEN： KTEKER  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *nano particle ,  *removal ,  *filter ,  *rating (limit) ,  *ICP-MS analysis ,  *Dynamic Light Scattering ,  chemical modification ,  Gold ,  particle size distribution ,  Adsorption ,  scanning electron microscope ,  transmission electron microscope ,  surface modification ,  field emission scanning electron microscope
Semi thesaurus term： field emission scanning electron microscope

JST classification (2)： Colloid chemistry in general  (CB11010C) ,  Dust collection  (XD02100D)

Terms in the title (5)： 粒子除去 ,  フィルター ,  定格 ,  ICP ,  性能評価