Art

J-GLOBAL ID：200902281367600528   Reference number：04A0714899

Measurement of the Radiative and Nonradiative Decay Rates of Single CdSe Nanocrystals through a Controlled Modification of their Spontaneous Emission

自発放射の制御された変調による単結晶CdSeナノ結晶の放射性および非放射性減衰速度の測定

Author (4)： BROKMANN X (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA) ,  COOLEN L (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA) ,  DAHAN M (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA) ,  HERMIER J P (Univ. Pierre et Marie Curie, Paris, FRA)
Material： Physical Review Letters  (Phys Rev Lett)
Volume： 93  Issue： 10  Page： 107403.1-107403.4  Publication year： Sep. 03, 2004 
JST Material Number： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： compound semiconductor ,...

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JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Luminescence of semiconductors  (BM08092S)

Terms in the title (7)： 自発放射 ,  変調 ,  単結晶 ,  CdSe ,  ナノ結晶 ,  放射性 ,  減衰速度