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J-GLOBAL ID：200902282764333958   Reference number：09A0599200

Electrospray Droplet Impact/SIMS

帯電水滴衝撃イオン化/二次イオン質量分析法

Author (1)： HIRAOKA KENZO (山梨大学 クリーンエネルギー研究センター)
Material： Journal of the Vacuum Society of Japan  (真空)
Volume： 52  Issue： 4  Page： 237-241 (J-STAGE)  Publication year： 2009 
JST Material Number： G0194A  ISSN： 1882-2398  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,  *collisional ionization ,  *desorption ,  Gallium ,  fullerene C60 ,  *ion beam ,  Silver ,  *water droplet ,  *electrification (static charge) ,  peptide
Semi thesaurus term： SIMS ,  desorption ,  帯電水滴

JST classification (1)： Mass spectrometers  (BD02060M)

Reference (8)：

• 1) Z. Postawa, B. Czerwinski, M. Szewczyk, E. J. Smiley, N. Winograd and B. J. Garrison: J. Phys. Chem. B, 108 (2004) 7831.
• 2) K. Hiraoka, D.Asakawa, S. Fujimaki, A. Takamizawa and K. Mori: Eur. Phys. J. D, 38 (2006) 225.
• 3) K. Hiraoka, K. Mori and D. Asakawa: J. Mass Spectrom., 41(2006) 894.
• 4) K. Mori, D. Asakawa, J. Sunner and K. Hiraoka: Rapid Commun. Mass Spectrom., 20 (2006) 2596.
• 5) D. Asakawa, S. Fujimaki, Y. Hashimoto, K. Mori and K. Hiraoka: Rapid Commun. Mass Spectrom., 21 (2007) 1579.

Terms in the title (4)： 帯電 ,  水滴 ,  衝撃イオン化 ,  二次イオン質量分析法