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J-GLOBAL ID：200902285946428120   Reference number：09A1174160

A High-Speed Low-Noise CMOS Image Sensor With 13-b Column-Parallel Single-Ended Cyclic ADCs

13bカラム並列シングルエンド型サイクリックADCを備えた高速低ノイズCMOSイメージセンサ

Author (6)： PARK Jong-Ho (Brookman Technol., Inc., Hamamatsu, JPN) ,  AOYAMA Satoshi (Brookman Technol., Inc., Hamamatsu, JPN) ,  WATANABE Takashi (Brookman Technol., Inc., Hamamatsu, JPN) ,  ISOBE Keigo (Brookman Technol., Inc., Hamamatsu, JPN) ,  KAWAHITO Shoji (Brookman Technol., Inc., Hamamatsu, JPN) ,  KAWAHITO Shoji (Shizuoka Univ., Hamamatsu, JPN)
Material： IEEE Transactions on Electron Devices  (IEEE Trans Electron Devices)
Volume： 56  Issue： 11  Page： 2414-2422  Publication year： Nov. 2009 
JST Material Number： C0222A  ISSN： 0018-9383  CODEN： IETDAI  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *image sensor ,  *noise reduction ,  dynamic range ,  *speedup ,  resolving power ,  analog to digital converter ,  noise (signal) ,  random noise ,  circuit design ,  digital method ,  transmission speed ,  signal sampling ,  *CMOS Image Sensor
Semi thesaurus term： frame rate ,  fixed pattern noise

JST classification (2)： Image pickup and picture recording equipment  (ND12032E) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (5)： カラム ,  クリック ,  ADC ,  低ノイズ ,  CMOSイメージセンサ