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J-GLOBAL ID：200902286378925668   Reference number：06A0197211

Development of Hall effect measurement equipment by AC method

AC法によるHall効果測定器の開発

Author (4)： MAEJIMA M. (Hosei Univ., Tokyo) ,  AZETI R. (Hosei Univ., Tokyo) ,  WATANABE K. (Hosei Univ., Tokyo) ,  YAMAMOTO Y. (Hosei Univ., Tokyo)
Material： Report of Research Center of Ion Beam Technology, Hosei University. Supplement  (法政大学イオンビーム工学研究所報告 別冊)
Issue： 24  Page： 25-28  Publication year： Mar. 2006 
JST Material Number： L0263A  ISSN： 0914-2908  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： semiconductor material ,...
Semi thesaurus term： 測定器

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JST classification (1)： Electric conduction in semiconductors and insulators in general  (BM03041P)

Terms in the title (4)： Ac ,  Hall効果 ,  測定器 ,  開発