Rapid X-ray reflectivity measurement using a new liquid interface reflectometer at SPring-8

YANO Y. F.; URUGA T.; TANIDA H.; TOYOKAWA H.; TERADA Y.; TAKAGAKI M.; YAMADA H.

Art

J-GLOBAL ID：200902286551402978 Reference number：09A0665202

Rapid X-ray reflectivity measurement using a new liquid interface reflectometer at SPring-8

SPring-8の新しい液体界面反射計を使った高速のX線反射率測定

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Volume： 167 Page： 101-105 Publication year： Feb. 2009
JST Material Number： W2178A ISSN： 1951-6355 Document type： Article
Country of issue： Germany, Federal Republic of (DEU) Language： ENGLISH (EN)

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