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J-GLOBAL ID：200902287911328444   Reference number：05A0222270

Comparison of the “Pad-Open-Short” and “Open-Short-Load” Deembedding Techniques for Accurate On-Wafer RF Characterization of High-Quality Passives

高品質受動(回路)の正確なオンウェーハ無線周波数キャラクタリゼーションのための「パッドオープンショート」と「オープンショート負荷」デ・エンベディング法の比較

Author (4)： TIEMEIJER L F (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  HAVENS R J (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  JANSMAN A B M (Philips Res. Lab., Eindhoven, NLD) ,  BOUTTEMENT Y (Philips Semiconductors Caen, Caen, FRA)
Material： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Trans Microw Theory Tech)
Volume： 53  Issue： 2  Page： 723-729  Publication year： Feb. 2005 
JST Material Number： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *microwave integrated circuit ,...
Semi thesaurus term： デ・エンベディング ,...

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JST classification (2)： LCR parts  (NA05030D) ,  General  (NC03161C)

Terms in the title (4)： 高品質 ,  無線周波数 ,  キャラクタリゼーション ,  ショート