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J-GLOBAL ID：200902288840009926   Reference number：08A0403306

A Functional Unit with Small Variety of Highly Reliable Cells and Its Evaluation

少品種高信頼セルによる演算器の提案と評価

Author (5)： SUZUKI KAZUNORI (奈良先端科学技術大学院大) ,  NAKADA TAKASHI (奈良先端科学技術大学院大) ,  NAKANISHI MASAKI (奈良先端科学技術大学院大) ,  YAMASHITA SHIGERU (奈良先端科学技術大学院大) ,  NAKASHIMA YASUHIKO (奈良先端科学技術大学院大)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 107  Issue： 558(CPSY2007 80-116)  Page： 167-172  Publication year： Mar. 20, 2008 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *arithmetic unit ,  *transistor ,  failure rate ,  *fault detection ,  *MOS structure ,  *NMOS structure ,  layout design ,  fault tolerance
Semi thesaurus term： NMOS ,  PMOS ,  *PMOS structure ,  fault tolerance

JST classification (4)： Arithmetic systems  (JC02020Z) ,  Transistors  (NC03070N) ,  Reliability  (KB04040H) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (6)： 品種 ,  信頼 ,  セル ,  演算器 ,  提案 ,  評価