Art

J-GLOBAL ID：200902288840125403   Reference number：04A0058574

Extensions of Identifier Matrices for Aspect and Feature Point Correspondences to Self-occlusion of Polyhedra

多面体の見えと特徴点対応を判定する行列の自己遮蔽に対する拡張

Author (2)： NOYORI TAKASHI (九州芸術工科大 大学院) ,  SAKAMOTO HIROYASU (九大 大学院芸術工学研究院)
Material： 情報処理学会論文誌  (IPSJ Journal)
Volume： 44  Issue： SIG17(CVIM8)  Page： 78-88  Publication year： Dec. 15, 2003 
JST Material Number： Z0778A  ISSN： 0387-5806  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *pattern matching ,...
Semi thesaurus term： 特徴点対応 ,...

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JST classification (1)： Pattern recognition  (JE07000S)

Reference (18)：

• LOWE, D. G. Fitting Parameterized Three-Dimensional Models to Images. IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 1991, 13, 5, 441-450
• 洪海. 回転行列の正規直交性拘束を用いた多面体物体の同定. 信学論 (D-II). 1989, J72-D-II, 3, 404-415
• WEISS, I. Model-Based Recognition of 3D Objects from Single Images. IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 2001, 23, 2, 116-128
• 尺長健. 不変量地図による3次元物体記述と物体認識. 信学論 (D-II). 1997, J80-D-II, 6, 1466-1474
• 坂本博康. アスペクト判定行列を用いた単一画像への3Dモデル当てはめ. 信学論 (D-II). 1999, J82-D-II, 11, 2165-2168

Terms in the title (6)： 多面体 ,  見え ,  特徴点 ,  行列 ,  自己遮蔽 ,  拡張