Art

J-GLOBAL ID：200902289742189360   Reference number：08A1109692

Molecular Layering of Fluorinated Ionic Liquids at a Charged Sapphire (0001) Surface

荷電を有するサファイア(0001)表面でのフッ素化イオン液体の分子層の形成

Author (15)： MEZGER Markus (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  SCHROEDER Heiko (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  REICHERT Harald (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  SCHRAMM Sebastian (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  OKASINSKI John S. (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  SCHOEDER Sebastian (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  SCHOEDER Sebastian (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA) ,  HONKIMAEKI Veijo (European Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, FRA) ,  DEUTSCH Moshe (Bar-Ilan Univ., Ramat-Gan, ISR) ,  OCKO Benjamin M. (Brookhaven National Lab., NY, USA) ,  RALSTON John (Univ. South Australia, SA, AUS) ,  ROHWERDER Michael (Max-Planck-Inst. Eisenforschung, Duesseldorf, DEU) ,  STRATMANN Martin (Max-Planck-Inst. Eisenforschung, Duesseldorf, DEU) ,  DOSCH Helmut (Max-Planck-Inst. Metallforschung, Stuttgart, DEU) ,  DOSCH Helmut (Universitaet Stuttgart, Stuttgart, DEU)
Material： Science
Volume： 322  Issue： 5900  Page： 424-428  Publication year： Oct. 17, 2008 
JST Material Number： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *sapphire ,  *ionic liquid ,  *fluorine compound ,  X-ray reflection ,  reflectivity ,  lamellar structure ,  dependence ,  thin film ,  *multilayer (molecule) ,  momentum transfer ,  electron density ,  temperature dependence ,  fluorophosphate ,  fron ,  *room temperature ionic liquid ,  film thickness dependence ,  *ore ,  *precious stone

JST classification (1)： Solid-liquid interface  (CB12050B)

Substance index (1)： HFC-125

Terms in the title (5)： 荷電 ,  サファイア ,  フッ素化 ,  イオン液体 ,  分子