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J-GLOBAL ID：200902291320897730   Reference number：03A0476903

Development of an Auto-Search Program for Simultaneous Determination of Thickness and Refractive Index of Transparent Conductive Films (I) Algorism

透明導電膜の厚さおよび屈折率の同時決定のための自動探索プログラムの開発(I)アルゴリズム

Author (5)： SUEHIRO TERUO (東北工大) ,  ABE TOSHIMI (東北工大) ,  HIRABUKI RYUICHI (東北工大) ,  MOCHIZUKI KATSUMI (石巻専修大) ,  SATO MASANOBU (日立国際電気 仙台研)
Material： 東北工業大学情報処理技術研究所紀要  (情報処理技術研究所紀要EOS)
Volume： 16  Issue： 1  Page： 17-23  Publication year： May. 31, 2003 
JST Material Number： L0083A  ISSN： 0915-2024  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *transparent material ,...

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JST classification (1)： General  (NC03081P)

Terms in the title (5)： 透明導電膜 ,  屈折率 ,  探索プログラム ,  開発 ,  アルゴリズム