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J-GLOBAL ID：200902292623783041   Reference number：06A0045813

ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND DIRECT SURFACE FORCE MEASUREMENTS

原子間力顕微鏡と直接表面力測定(IUPAC技術報告)

Author (5)： RALSTON John (Univ. South Australia, Adelaide, SA, AUS) ,  LARSON Ian (Monash Univ., Vic, AUS) ,  RUTLAND Mark W. (Inst. Surface Chemistry, Stockholm, SWE) ,  FEILER Adam A. (Royal Inst. Technol., Stockholm, SWE) ,  KLEIJN Mieke (Lab. Physical Chemistry and Colloid Sci., Wageningen, NLD)
Material： Pure and Applied Chemistry  (Chimie Pure et Appliquee)
Volume： 77  Issue： 12  Page： 2149-2170  Publication year： Dec. 2005 
JST Material Number： H0385A  ISSN： 0033-4545  CODEN： PACHAS  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Germany, Federal Republic of (DEU)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...

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JST classification (4)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Surface structure of solids in general  (BK15010E) ,  Colloid chemistry in general  (CB11010C) ,  Solid-gos interface in general.  (CB12041H)

Terms in the title (4)： 原子間力顕微鏡 ,  表面力 ,  IUPAC ,  報告