Art

J-GLOBAL ID：200902292707660743   Reference number：08A0485607

STM/STS Observations of Graphene Edges

STM/STSによるグラフェン端の電子状態の観測

Author (3)： ENOKI TOSHIAKI (東京工大 大学院理工学研究科) ,  KOBAYASHI YOSUKE (東京工大 大学院理工学研究科) ,  FUKUI KEN'ICHI (東京工大 大学院理工学研究科)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 29  Issue： 5  Page： 304-309  Publication year： May. 10, 2008 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *Graphite ,  *electronic structure ,  pi electron ,  scanning tunneling microscope ,  spectroscopy ,  magnetic property ,  nanostructure ,  graphene ,  hydrogen terminated ,  scanning tunneling spectroscopy
Semi thesaurus term： scanning tunneling spectroscopy ,  nanostructure

JST classification (2)： Electronic structure in general  (BM02010K) ,  Experimental research on molecular structure and properties  (CB01020I)

Reference (42)：

• 1) K.S. Novoselov, A.K. Geim, S.V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S.V. Dubonos, I.V. Grigorieva and A.A. Firsov: Science 306, 666 (2004).
• 2) Y. Zheng and T. Ando: Phys. Rev. B 65, 245420 (2002).
• 3) K.S. Novoselov, A.K. Geim, S.V. Morozov, D. Jiang, M.I. Katsnelson, I.V. Grigorieva, S.V. Dubonos and A.A. Firsov: Nature 438, 197 (2005).
• 4) Y. Zhang, Y-W. Tan, H.L. Stormer and P. Kim: Nature 438, 201 (2005).
• 5) C.L. Kane and E.J. Mele: Phys. Rev. Lett. 95, 226801 (2005).

Terms in the title (5)： STM ,  STS ,  グラフェン ,  電子状態 ,  観測