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J-GLOBAL ID：200902295644268308   Reference number：06A0622901

Detecting mental EEG properties using detrended fluctuation analysis

トレンド除去変動解析法を用いる精神作業EEG特性の検出

Author (5)： JIANG Zhaohui (Univ. of Sci. & Tech. Of China, Hefei) ,  NING Yan (Univ. of Sci. & Tech. Of China, Hefei) ,  AN Bin (Univ. of Sci. & Tech. Of China, Hefei) ,  LI Ao (Univ. of Sci. & Tech. Of China, Hefei) ,  FENG Huanqing (Univ. of Sci. & Tech. Of China, Hefei)
Material： Proceedings of the Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society  (Proceedings of the Joint BMES/EMBS Conference)
Volume： 27th  Issue： Vol.2  Page： 2017-2020  Publication year： 2005 
JST Material Number： C0043B  ISSN： 1094-687X  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *electroencephalogram ,...

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JST classification (1)： Biometry  (EL03020C)

Terms in the title (3)： トレンド除去変動解析法 ,  精神作業 ,  EEG