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J-GLOBAL ID：200902297950461696   Reference number：08A0802355

Studying Atomic Structures by Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy

収差補正透過型電子顕微鏡法による原子構造の研究

Author (1)： URBAN Knut W. (Helmholtz Res. Center Juelich, Juelich, DEU)
Material： Science
Volume： 321  Issue： 5888  Page： 506-510  Publication year： Jul. 25, 2008 
JST Material Number： E0078A  ISSN： 0036-8075  CODEN： SCIEA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *aberration correction ,  *transmission electron microscope ,  *atomic structure ,  *electron energy loss spectroscopy ,  *complex technology ,  image ,  accuracy

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (4)： 収差補正 ,  透過型電子顕微鏡法 ,  原子構造 ,  研究