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J-GLOBAL ID：200903000072486698
寸法測定器
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中島 淳 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994277524
Publication number (International publication number)：1996136225
Application date： Nov. 11, 1994
Publication date： May. 31, 1996
Summary：
【要約】【目的】 正確な寸法測定を行うことができる携帯式の寸法測定器を得る。【構成】 スリット光18の光束面が被測定面20Bに対して垂直である場合のみ、センサ33A、33Bは同一光量受光するので、演算装置40は、センサ33A、33Bが同一光量受光した場合にのみ駆動回路15Dが出力する信号に基づいてスリット光18の光束面が被測定面20Bに対して垂直であるか否かを判断することができる。そこで、演算装置40は判断手段によりスリット光18の光束面が被測定面20Bに対して垂直であり且つ輝線38が連続していると判断された時の段差・隙間寸法、即ち正しい段差・隙間寸法を求め、求めた正しい段差・隙間寸法を液晶ディスプレイ12に表示する。
Claim (excerpt)：
スリット光を被測定物に向けて射出する射出手段と、被測定物からのスリット光の反射光を受光し、被測定物表面上の輝線に対応した信号を出力する信号出力手段と、がケーシングに収納されて構成され、スリット光が被測定物に照射されるようにケーシングが保持されることにより被測定物の寸法を測定する寸法測定器であって、前記スリット光の光束面が被測定物に対し垂直となるように照射された場合のみ該被測定物からの反射光が各々同一の光量受光されるように配置され、受光した光量に応じた大きさの信号を出力する複数の光センサと、前記複数の光センサからの出力信号に基づいて前記スリット光の光束面が被測定物に対して垂直となるように照射されたか否かを判断すると共に、前記信号出力手段から出力された被測定物上の輝線を表す信号に基づいて輝線が連続しているか否かを判断する判断手段と、前記判断手段により前記スリット光の光束面が被測定物に対して垂直となるように照射されたと判断され且つ輝線が連続していると判断された場合に、前記信号出力手段から出力された被測定物上の輝線を表す信号に基づいて、輝線を構成する線分の各々に対応する被測定物の部位の寸法を演算する演算手段と、前記演算手段による演算結果を出力する出力手段と、を備えた寸法測定器。
IPC (2)：
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