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J-GLOBAL ID：200903000097814487

導通検査方法及び導通検査装置

Inventor： 富田 明
Applicant, Patent owner： 日本エー・エム・ピー株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994099239
Publication number (International publication number)：1995280864
Application date： Apr. 12, 1994
Publication date： Oct. 27, 1995
Summary：

【要約】【目的】 ワイヤハーネスの電線の配置状態に影響されず、しかもワイヤハーネスの両端のコネクタのコンタクトに非接触で導通検査する方法及び装置を提供する。【構成】 ワイヤハーネス30用の導通検査装置10は、ワイヤハーネス30の両端のコネクタ34、36にそれぞれ嵌合するコネクタ部18、20、一方のコネクタ部18に接続されるパルス電圧発生部12、他方のコネクタ部20からの出力を受けるデータ処理部22、及び検査結果を表示する表示部24からなる。コネクタ部18、20及びコネクタ34、36の嵌合時において、コネクタ部18、20のコンタクトはコネクタ34、36のコンタクトと非接触状態を保つように短く形成される。

Claim (excerpt)：

複数の電線及び該電線の両端を終端するコネクタからなるワイヤハーネスを導通検査する方法において、前記コネクタ内のコンタクトに対して若干の間隔を存して相手方コンタクトを配置し、該相手方コンタクトにパルス電圧を印加してその出力を検出することにより前記ワイヤハーネスの導通状態を判定することを特徴とする導通検査方法。