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J-GLOBAL ID：200903000127231791

半導体集積回路

Inventor： 河野 正樹 ,  楠 貢 ,  中村 知司 ,  鈴木 幸一 ,  村木 陽
Applicant, Patent owner： 株式会社ルネサステクノロジ ,  株式会社日立インフォメーションテクノロジー
Agent (1)： 筒井 大和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002161244
Publication number (International publication number)：2004003910
Application date： Jun. 03, 2002
Publication date： Jan. 08, 2004
Summary：

【課題】データ保持用の回路としてE-FFを使用する半導体集積回路において、動作周波数向上の妨げとなっているクリティカル・パスに対して、より高速に動作し、スキャン方式による故障診断をすることができるようにする。【解決手段】入力データ信号D、入力診断用信号SID及び切換え信号SENを入力とするセレクタ1の出力を第1のラッチ2のデータ入力に接続したフリップフロップ回路であって、入力診断用信号SIDの入力部前段に第1のラッチ2に対して逆相のクロックで動作する第2のラッチ3をさらに付加する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

第1の入力部にデータ信号を入力し、第2の入力部に診断用信号を入力し、第3の入力部に切換え信号を入力し、前記切換え信号の値に応じて、通常動作時には前記データ信号を出力し、診断時には前記診断用信号を出力するセレクタと、 第4の入力部に前記セレクタの出力信号を入力し、第5の入力部にクロック信号を入力し、前記クロック信号の値に応じて、前記第4の入力部に入力された前記セレクタの出力信号を出力または保持する第1のラッチと、 を含むフリップフロップ回路を有することを特徴とする半導体集積回路。

IPC (3)：

G01R31/28 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

FI (3)：

G01R31/28 G ,  H01L27/04 T ,  H03K3/356 Z

F-Term (16)：

2G132AC14 ,  2G132AG08 ,  2G132AG09 ,  2G132AH00 ,  2G132AK07 ,  2G132AK21 ,  2G132AK24 ,  5F038DF01 ,  5F038DT08 ,  5F038DT15 ,  5F038DT18 ,  5F038EZ20 ,  5J034AB04 ,  5J034CB01 ,  5J034DB03 ,  5J034DB08