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J-GLOBAL ID:200903000132401891

断層撮影装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉谷 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003343391
Publication number (International publication number):2004141656
Application date: Oct. 01, 2003
Publication date: May. 20, 2004
Summary:
【課題】 照射源および検出手段を安全に、かつ高速に回転走査させることができ、断層軸方向の分解能を向上させ、等方空間分解能の3次元断層画像を取得することができる断層撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】 X線管フレーム6上でX線管8を、9を囲むフラットパネル型検出器(FPD)フレーム7上でFPD9を、断層軸Bの軸心周りにそれぞれ一体に回転させる。X線管8およびFPD9を結ぶX線のビーム中心Rが、断層軸Bに対してラミノ角αで傾斜されるようにX線管8およびFPD9は配設される。このように構成とすることで、X線管8およびFPD9を安全に、かつ高速に回転走査させることができる。さらに、断層軸Bに直交する走査中心軸の軸心周りにX線管8およびFPD9が一体に回転(従走査)することにより、高速な走査に加え、断層軸方向の分解能を向上させ、等方空間分解能の3次元断層画像を取得することができる。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
電磁波を被検体に照射する照射源と、前記被検体に照射されて透過された前記電磁波を検出する検出手段と、前記照射源および検出手段を一体に走査させる走査手段とを備え、前記走査手段によって走査した検出手段の各位置でそれぞれ検出される投影データの一群より3次元の断層画像を取得する断層撮影装置であって、前記被検体の関心部位を通る断層軸に対して、前記照射源・検出手段を結ぶ照射軸が所定の角度で傾斜されるように、照射源および検出手段を配設し、前記走査手段は、前記照射源を囲む照射源用筐体および前記検出手段を囲む検出手段用筐体と、前記各筐体の照射源および検出手段を前記断層軸心周りに一体に回転させる回転手段とを備えることを特徴とする断層撮影装置。
IPC (2):
A61B6/02 ,  A61B6/00
FI (3):
A61B6/02 301Z ,  A61B6/00 300S ,  A61B6/00 335
F-Term (11):
4C093AA11 ,  4C093CA23 ,  4C093DA02 ,  4C093EA02 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EC14 ,  4C093EC28 ,  4C093FA47 ,  4C093FD05 ,  4C093FF42
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
  • X線断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-109642   Applicant:株式会社東芝
  • CT装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-312225   Applicant:シーメンスアクチエンゲゼルシヤフト
  • 断層撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-070718   Applicant:株式会社島津製作所
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