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J-GLOBAL ID:200903000143333383

蛍光測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (9): 特許業務法人アルガ特許事務所 ,  有賀 三幸 ,  高野 登志雄 ,  中嶋 俊夫 ,  村田 正樹 ,  山本 博人 ,  浅野 康隆 ,  的場 ひろみ ,  大野 詩木
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005079821
Publication number (International publication number):2006258744
Application date: Mar. 18, 2005
Publication date: Sep. 28, 2006
Summary:
【課題】 蛍光測定装置を用いて液体試料中の蛍光物質を測定する場合に、蛍光検出の検出感度を低下させず、またS/N比の経時的不安定化を簡易に防止できる方法を提供する。 【解決手段】 測定容器中の液体試料の上方から励起光を入射し、該励起光により発生する蛍光を検出する蛍光測定装置を用いて蛍光測定する場合において、試料液面の凹面曲率半径をより小さくするか又は凹面曲率半径の経時変化を防止する手段を講じることを特徴とする蛍光測定方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
測定容器中の液体試料の上方から励起光を入射し、該励起光により発生する蛍光を検出する蛍光測定装置を用いて蛍光測定する場合において、試料液面の凹面曲率半径をより小さくするか又は凹面曲率半径の経時変化を防止する手段を講じることを特徴とする蛍光測定方法。
IPC (1):
G01N 21/64
FI (1):
G01N21/64 Z
F-Term (12):
2G043AA01 ,  2G043CA03 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB05 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043JA03 ,  2G043LA01 ,  2G043MA04 ,  2G043NA13
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 蛍光,燐光測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-006866   Applicant:株式会社日立ハイテクノロジーズ
  • マーク検出方法および装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-042372   Applicant:日立マクセル株式会社, マクセル精器株式会社
Cited by examiner (6)
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