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J-GLOBAL ID:200903000156157096
周長測定装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
大岩 増雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991327379
Publication number (International publication number):1995218242
Application date: Dec. 11, 1991
Publication date: Aug. 18, 1995
Summary:
【要約】【目的】 円形断面を有する被測定物の外周に超音波の表面波を伝播させ、超音波の伝播方向一定距離隔てた被測定物の外表面に反射源を接触させ、その反射源からの反射信号を受信して反射源までの表面波伝播時間を測定することで、被測定物の表面波伝播速度を得る周長測定装置を提供する。【構成】 保持装置15の一端に探触子9を取り付け、超音波の伝播方向の残りの一端側に反射板13を取り付ける。探触子9には処理装置8から送信パルス信号11供給すると共に、受信した信号を処理装置8へ供給する。【効果】 被測定物の外表面に接触させた反射源からの反射信号を利用して表面波伝播速度を得るための装置が取り扱いやすく、精度の良い測定ができる。
Claim (excerpt):
円形断面を有する棒状、パイプ状の被測定物の外周に表面波を伝播させ、上記表面波が被測定物の外周面を一周するに要する伝播時間を測定し、上記測定結果及び被測定物内を伝播する表面波の伝播速度をもとに被測定物の周長を測定する超音波の表面波を利用した周長測定装置において、被測定物の周方向に伝播する表面波を発生する送信用振動子と前記被測定物の外周面を一周する表面波を検出する受信用振動子とを有した超音波探触子と、前記送信用振動子の超音波伝播方向の一定距離を隔てた位置の被測定物外表面に接触する反射源と、上記送信用振動子で送信した表面波の上記反射源からの反射信号を受信して反射信号までの伝播時間を測定し、上記測定結果と反射源までの距離から被測定物の表面波伝播速度を求める処理装置とを具備したことを特徴とする周長測定装置。
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