飛行時間型二次イオン質量分析法によるRNAの分析方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：金田暢之 , 伊藤克博 , 石橋政幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002189838
Publication number (International publication number)：2004024203
Application date： Jun. 28, 2002
Publication date： Jan. 29, 2004
Summary：

【課題】本発明の分析方法によれば、ラジオアイソトープ法や蛍光法の問題点が解決された試料中の標的核酸の検出方法を提供することができ、精度よい遺伝子情報の取得が可能となる。【解決手段】標的核酸の塩基配列に相補的な塩基部分を有するプローブの2種以上を担体に固定したプローブ担体に試料を反応させ、該試料中に標的核酸が存在する場合に形成されるプローブと標的核酸とのハイブリッド体の有無を飛行時間型二次イオン質量分析法によって検出することで試料中の標的核酸を分析方法する際に、前記標的核酸と前記核酸プローブとしてRNAとDNAの組合せを用いる。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

標的核酸の塩基配列に相補的な塩基部分を有するプローブの2種以上を担体に固定したプローブ担体に試料を反応させ、該試料中に標的核酸が存在する場合に形成されるプローブと標的核酸とのハイブリッド体の有無を飛行時間型二次イオン質量分析法によって検出する試料中の標的核酸の分析方法であって、前記標的核酸と前記核酸プローブがRNAとDNAの組合せであることを特徴とする試料中の標的核酸の分析方法。

IPC (5)：

C12Q1/68 , G01N23/225 , G01N27/62 , G01N33/53 , G01N33/566

FI (6)：

C12Q1/68 A , G01N23/225 , G01N27/62 K , G01N27/62 V , G01N33/53 M , G01N33/566

F-Term (19)：

2G001AA05 , 2G001BA06 , 2G001CA05 , 2G001EA04 , 2G001GA06 , 4B063QA01 , 4B063QA18 , 4B063QQ42 , 4B063QQ52 , 4B063QQ53 , 4B063QQ54 , 4B063QR32 , 4B063QR50 , 4B063QR55 , 4B063QS02 , 4B063QS34 , 4B063QS36 , 4B063QS39 , 4B063QX10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

プローブ媒体および基材上へのプローブ固定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-377106 Applicant：キヤノン株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

Secondary ion mass spectrometry, SIMS XII, Proceedings of the 12th international conference on secon
Analytical chemistry. 1997, Vol.69, No.18, p.3747-3753
Secondary ion mass spectrometry, SIMS XII, Proceedings of the 12th international conference on secon

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