Pat
J-GLOBAL ID：200903000216490300
凍結切片作製用試料ホルダーおよび試料セット治具
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999235736
Publication number (International publication number)：2001059801
Application date： Aug. 23, 1999
Publication date： Mar. 06, 2001
Summary：
【要約】【課題】 電子顕微鏡および光学顕微鏡でのシート状試料の断面観察や膜厚を測定する際の凍結切片法により断面出しを行う場合において、試料を垂直にセットする際の作業性を向上させることにより、膜厚測定の誤差を小さくすると共に、作業毎のバラツキ幅を抑えること。【解決手段】 電子または光学顕微鏡用の凍結超薄切片試料/凍結切断断面試料を作製する際に試料を保持する凍結切片作製用試料ホルダーにおいて、試料接触面に所定の規則性で配列された凹凸面を有する凹凸状金属板11と、凹凸状金属板11の先端位置に対し、所定量高い位置で対向し、試料接触面が平滑性を有する平滑金属板12と、を備えた。
Claim (excerpt)：
電子または光学顕微鏡用の凍結超薄切片試料/凍結切断断面試料を作製する際に試料を保持する凍結切片作製用試料ホルダーにおいて、試料接触面に所定の規則性で配列された凹凸面を有する第1の部材と、前記第1の部材の先端位置に対し、所定量高い位置で対向し、試料接触面が平滑性を有する第2の部材と、を備えたことを特徴とする凍結切片作製用試料ホルダー。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (2)：
Return to Previous Page
