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J-GLOBAL ID：200903000232040551

染色された粒子の検査方法及びその装置

Inventor： 矢辺 良平 ,  桜庭 伸一 ,  栗村 正明 ,  小島 康明
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993026487
Publication number (International publication number)：1994241981
Application date： Feb. 16, 1993
Publication date： Sep. 02, 1994
Summary：

【要約】【目的】試料の複数波長光毎の吸光度を測定し、自動測定に不適な検体を抽出すると共に、色情報を用いて画像認識の補正を行い、沈渣検査結果にこれら検体情報を付加することにより、効率的で高精度な画像解析を実現する。【構成】試料の複数波長の吸光度を用いて定量する。これらデータにより、自動測定に不適な検体試料の場合は画像解析を実施しない。自動測定する場合には、これらデータから画像識別時に色情報の補正を行い高精度な分類を実行する。さらにこれらデータを検体情報として沈渣結果と共に出力する。【効果】試料の複数波長毎の吸光度を自動測定することにより、高精度で、かつ効率的な沈渣検査装置を提供する。

Claim (excerpt)：

粒子が懸濁された被検体を染色処理し、染色された粒子がフローセル内を通過するときに粒子像を撮像し、撮像画を演算することによって、前記被検体に含有される粒子の濃度を求める、染色された粒子の検査装置に於いて、染色処理前の被検体が撹拌されて粒子が懸濁されている状態でその被検体に光学測定用の光を投射し、前記被検体からの光の内、検体チェック用パラメータに対応する波長を検出する光度計と、前記被検体の検出情報に基づいて、その被検体の測定の続行の可否を判断する判断手段と、この判断結果に応じて、撮像装置の動作を制御する制御手段を備えたことを特徴とする染色された粒子の検査装置。

IPC (4)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/59 ,  G01N 33/50 ,  G01N 33/72