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J-GLOBAL ID：200903000232450431

放射線源からの放射線の放射率を調節する方法

Inventor： パトリック・クレティエン
Applicant, Patent owner： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
Agent (3)： 松本 研一 ,  小倉 博 ,  伊藤 信和
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004003555
Publication number (International publication number)：2004221082
Application date： Jan. 09, 2004
Publication date： Aug. 05, 2004
Summary：

【課題】 X線管のような放射線源からの放射線の放射率を調節する。【解決手段】 X線管からの放射線放射率を調節するために、X線管の電流(Itube)が、加熱電流(Ich)に応じた二次多項式関数及び高電圧(V)に応じた一次多項式関数によって実験的にモデル化される。伝達関数(13)は、予測される管電流を調節するために3%よりも精密な精度を提供する(18)。この関数は、製造バラツキ及び使用している管の経年変化を考慮に入れて使用することもできる。【選択図】 図1

Claim 1：

放射線源(1)の放射線放射率を調節する方法であって、 線源の放射線放射率(Itube)を線源の第1の放射要素(5)と第2の放射要素(6)間に印加される電圧(V)の関数及び活性線源の加熱電流(Ich)の関数として較正し、 前記第1の要素よりも高い電圧を前記第2の要素に印加し、 予測放射線放射率に関して前記第2の要素の加熱電流を前記較正の関数として調節する、 ことを含み、 前記較正が放射線放射率を表すように選択された式によって行い、該式において前記放射率の値の対数が前記加熱電流の二次多項式関数であり、かつ前記電圧の一次多項式関数であることを特徴とする方法。

IPC (4)：

H05G1/34 ,  G21K1/00 ,  G21K5/00 ,  H01J35/00

FI (4)：

H05G1/34 C ,  G21K1/00 X ,  G21K5/00 A ,  H01J35/00 Z

F-Term (6)：

4C092AA01 ,  4C092AB04 ,  4C092AB30 ,  4C092AC03 ,  4C092BD06 ,  4C092DD16

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• X線高電圧装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-289735   Applicant：株式会社島津製作所
• X線高電圧装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-172812   Applicant：株式会社日立メディコ