Pat

J-GLOBAL ID：200903000249269412

蛍光X線分析装置

Inventor： 青柳 光一 ,  小堀 潔 ,  住居 弘諮
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002021799
Publication number (International publication number)：2003222600
Application date： Jan. 30, 2002
Publication date： Aug. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】 複数の分光素子を交換して用いる蛍光X線分析装置において、容易かつ迅速にあおり調整ができるものを提供する。【解決手段】 交換機構11が有するモーター12の回転軸12a の回転、停止により、各分光素子7A...の回転位置の微調整を行い、微調整済みの各回転位置を記憶手段21に記憶し、使用される分光素子7A...について制御手段22により自動的に微調整済みの回転位置を再現する。

Claim (excerpt)：

試料に1次X線を照射するX線源と、試料から発生する蛍光X線を平行化する発散ソーラースリットと、その発散ソーラースリットで平行化された蛍光X線が入射され、測定対象の蛍光X線を分光する分光素子と、その分光素子で分光された蛍光X線の強度を測定する検出器とを備えた蛍光X線分析装置であって、前記分光素子が複数で、使用される分光素子が交換機構により切り替えられ、その交換機構の有するモーターの回転軸が、前記発散ソーラースリットの箔の法線を含む平面のうち、前記検出器の受光面と直交する基準面に沿い、その回転軸の周方向に前記複数の分光素子が並べて取り付けられ、各分光素子について、その受光面が前記基準面に直交し、前記発散ソーラースリットで平行化された蛍光X線が入射されるような前記モーターの回転軸の回転位置を記憶する記憶手段と、使用される分光素子について、前記記憶手段が記憶した回転位置に前記モーターの回転軸を回転させる制御手段とを備えた蛍光X線分析装置。

IPC (3)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/06 ,  G21K 5/02

FI (3)：

G01N 23/223 ,  G21K 1/06 N ,  G21K 5/02 X

F-Term (11)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001EA02 ,  2G001EA08 ,  2G001EA20 ,  2G001FA06 ,  2G001GA03 ,  2G001JA05 ,  2G001PA07 ,  2G001SA02