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J-GLOBAL ID:200903000266920496

超音波表面SH波による溶接部の検査法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小山 義之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996160610
Publication number (International publication number):1997318605
Application date: May. 30, 1996
Publication date: Dec. 12, 1997
Summary:
【要約】【目的】 溶接部のルート部の反対側の表面から、溶込み不良及びタレ込みによる溶接部の欠陥を区別して検出することができる超音波探傷法を提供することを目的とする。【構成】 試験体8の溶接部の裏側の欠陥を外側より超音波により検査する検査法において、該試験体8表面9に平行で進行方向に垂直に振動する横波よりなる超音波パルスを発生する探触子10を該試験体8の外側表面9に密着して、該探触子10から該表面9に対し浅い角度で表面SH波を入射して、該表面SH波を該試験体8裏側の欠陥に到達せしめ、該欠陥からの反射波を該探触子10又は別個の受信用探触子により検出して、欠陥を検出することを特徴とする超音波表面SH波による溶接部の検査法。
Claim (excerpt):
試験体の溶接部の裏側の欠陥を外側より超音波により検査する検査法において、該試験体表面に平行で進行方向に垂直に振動する横波よりなる超音波パルスを発生する探触子を該試験体の外側表面に密着して、該探触子から該表面に対し浅い角度で表面SH波を入射して、該表面SH波を該試験体裏側の欠陥に到達せしめ、該欠陥からの反射波を該探触子又は別個の受信用探触子により検出して、欠陥を検出することを特徴とする超音波表面SH波による溶接部の検査法。
IPC (4):
G01N 29/10 505 ,  G01N 29/04 502 ,  G01N 29/22 501 ,  G01N 29/22 504
FI (4):
G01N 29/10 505 ,  G01N 29/04 502 ,  G01N 29/22 501 ,  G01N 29/22 504

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