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J-GLOBAL ID:200903000267064330

金属試料中の非金属介在物組成及び/又は粒径の分析法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小谷 悦司 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000054690
Publication number (International publication number):2001242144
Application date: Feb. 29, 2000
Publication date: Sep. 07, 2001
Summary:
【要約】【課題】 鉄鋼または非鉄金属中に存在する非金属介在物の組成及び粒径を迅速に測定する。【解決手段】 金属表面及び/又は内部に存在する非金属介在物の組成及び/又は粒径を、レーザー励起-ICP分析法により定量する。好ましくは、鉄鋼または非鉄金属から切り出した試料、または大型塊状試料にレーザー光を照射することにより介在物を蒸発させた後、高温の誘導結合プラズマ中でイオン化して、生成したイオンの個数を質量分析装置または発光分光光度計で計測し、各元素についてのスペクトルの時間曲線から介在物によるピークを積分処理して求める。
Claim (excerpt):
金属表面及び/又は内部に存在する非金属介在物の組成及び/又は粒径を、レーザー励起-ICP分析法により定量することを特徴とする非金属介在物の組成及び/又は粒径の分析法。
IPC (4):
G01N 27/62 ,  G01N 15/02 ,  G01N 21/73 ,  G01N 33/20
FI (4):
G01N 27/62 V ,  G01N 15/02 D ,  G01N 21/73 ,  G01N 33/20 J
F-Term (16):
2G043AA01 ,  2G043CA05 ,  2G043DA01 ,  2G043DA05 ,  2G043EA08 ,  2G043GA07 ,  2G043GB07 ,  2G043GB21 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043NA01 ,  2G055AA01 ,  2G055BA01 ,  2G055EA10 ,  2G055FA02 ,  2G055FA10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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