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J-GLOBAL ID:200903000269867243

金属材料の寿命評価方法及びその評価システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003190201
Publication number (International publication number):2005024389
Application date: Jul. 02, 2003
Publication date: Jan. 27, 2005
Summary:
【課題】特定のクリープ環境下における寿命を正確に測定し得る金属材料の寿命評価方法を提供する。【解決手段】所定のクリープ環境に所定時間置いた寿命消費率が既知の金属材料の特定の結晶粒について結晶方位顕微鏡で平均結晶方位差を測定するとともに、かかる測定を寿命消費率が異なる複数種類の同一金属材料について測定することにより、寿命消費率と平均結晶方位差との相関を表す特性図を得る一方、測定対象の金属材料の平均結晶方位差を測定し、その測定値を前記特性図に当てはめることにより当該金属材料の推定寿命消費率を検出する。【選択図】 図1
Claim 1:
所定温度雰囲気における所定応力を付与した状態である特定のクリープ環境に所定時間置いた寿命消費率が既知の金属材料の特定の結晶粒について結晶方位顕微鏡で平均結晶方位差を測定するとともに、かかる測定を寿命消費率が異なる複数種類の同一金属材料について測定することにより、クリープ損傷を発生していない寿命消費率が0%からクリープ損傷により破損した寿命消費率が100%に至る前記金属材料の寿命消費率と平均結晶方位差との相関を表すデータを得る一方、 前記特定のクリープ環境に置いた前記金属材料と同一の測定対象である金属材料の平均結晶方位差を結晶方位顕微鏡で測定し、その測定値を前記データに当てはめることにより当該金属材料の推定寿命消費率を検出することを特徴とする金属材料の寿命評価方法。
IPC (1):
G01N17/00
FI (1):
G01N17/00
F-Term (9):
2G050AA01 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050CA01 ,  2G050DA02 ,  2G050EA01 ,  2G050EB01 ,  2G050EB07 ,  2G050EC05

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