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J-GLOBAL ID：200903000275592132

ステレオ画像測定装置

Inventor： 大谷 仁志 ,  大友 文夫 ,  青木 弘幸
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 和泉 雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992224670
Publication number (International publication number)：1994050736
Application date： Jul. 31, 1992
Publication date： Feb. 25, 1994
Summary：

【要約】[目的] 本発明はステレオ画像を表示し、その表示画面上で相関処理を行うステレオ画像測定装置に係わり、特に、カーソル位置近傍で特徴点抽出を行った後、相関処理を行うことのできるステレオ画像測定装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、ステレオ画像記憶部が少なくとも一対のステレオ画像を記憶し、表示部が、ステレオ画像記憶部に記憶されたステレオ画像を表示し、カーソル移動部が、表示部で表示されたステレオ画像中にカーソルを移動させ、特徴抽出部が、表示部で表示されるステレオ画像の内の一の画像におけるカーソル位置近傍で、特徴点抽出を行い、その特徴点を測定点として決定する様になっている。そして相関処理部が、一の画像の測定点に対応する他の画像の対応点を捜索し、表示部が、測定点と相関処理結果に基づき、求められた対応点にマークを附す様になっている。

Claim (excerpt)：

少なくとも一対のステレオ画像を記憶するためのステレオ画像記憶部と、前記ステレオ画像記憶部に記憶されたステレオ画像を表示するための表示部と、この表示部で表示されたステレオ画像中にカーソルを移動させるためのカーソル移動部と、前記表示部で表示されるステレオ画像の内の一の画像におけるカーソル位置近傍で、特徴点抽出を行い、その特徴点を測定点として決定するための特徴抽出部と、前記一の画像の測定点に対応する他の画像の対応点を捜索する相関処理により求める相関処理部と、前記表示部は、前記測定点と相関処理結果に基づき、求められた対応点にマークを附す様に構成されていることを特徴とするステレオ画像測定装置。

IPC (5)：

G01B 11/24 ,  G01C 11/00 ,  G06F 15/62 350 ,  H04N 7/18 ,  H04N 13/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭61-209315
  
• 特開平2-267676
  
• 特開昭62-130303