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J-GLOBAL ID：200903000314729523

3次元形状測定システム

Inventor： 顧 若▲偉▼ ,  吉澤 徹 ,  大谷 幸利
Applicant, Patent owner： 株式会社資生堂
Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994049145
Publication number (International publication number)：1995260451
Application date： Mar. 18, 1994
Publication date： Oct. 13, 1995
Summary：

【要約】【目的】 3次元形状測定システムに関し、交叉軸系のワンステップ位相シフト法において、比較的簡単な処理で、3次元形状測定値を得ることのできる3次元形状測定システムを提供する。【構成】 基準面14に投影された格子の画像の周期が4画素又は8画素にほぼ相当する長さになるように格子プロジェクタ10及びCCDカメラ12を配置し、基準面14について予め位相量の分布を測定してψconstant(i,j)として予め格納しておき、測定対象物16について得られたψ(i,j)から差し引くことによって補正し、高さデータz(i,j)を得る。位相量は連続する3画素の値から計算する。

Claim (excerpt)：

測定対象物に格子パターンを投影する格子パターン投影装置と、測定対象物に投影された格子パターンの2次元画像を生成する撮像装置であって、その光学系の光軸が該格子パターン投影装置の光学系の光軸と実質的に交叉し、該交叉点を通る基準面に投影された格子パターンについて生成される2次元画像における格子線の周期が、nを4以上の整数とするとき、n画素分の長さにほぼ等しくなるように設けられた撮像装置と、該撮像装置が生成する2次元画像の各画素について、格子線に直角な方向に近接するn画素のうちの少なくとも3画素の値から位相量を算出する手段と、測定対象物について該位相量算出手段が算出する位相量から、基準面について該位相量算出手段が算出する位相量を対応する画素毎に減算することによって位相量を画素毎に補正する手段と、該位相量補正手段により補正された位相量に基づき、画素毎に測定対象物の基準面からの距離を算出することにより、測定対象物の3次元形状測定値を計算する手段とを具備することを特徴とする3次元形状測定システム。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  A61B 5/107 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00

FI (2)：

A61B 5/10 300 Q ,  G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-278406
  
• 特開平2-271208
  
• 特公平3-038524