Pat

J-GLOBAL ID：200903000323503465

波長計測方法及びその装置

Inventor： 福地 圭介
Applicant, Patent owner： 日立電線株式会社
Agent (1)： 絹谷 信雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002057282
Publication number (International publication number)：2003254835
Application date： Mar. 04, 2002
Publication date： Sep. 10, 2003
Summary：

【要約】【課題】 絶対波長計測が容易で、波長遮断特性も良好であり、かつ振動の影響を受けにくい波長計測方法及びその装置を提供する。【解決手段】 光源8からの光が空間を伝搬することなく、全て光ファイバ内を伝搬するので振動に強い。また電歪素子4で直接ファイッブラッググレーティング10-3に応力を与えるため、掃引速度を速くすることができる。この結果、電歪素子4の駆動周波数として数十kHzまでの掃引が可能となる。さらに、光ファイバブラッググレーティング10-3のスペクトラムは非常に急峻な遮断特性を有するので、波長遮断特性が良好となる。

Claim (excerpt)：

少なくとも1箇所の被物理量計測用光ファイバブラッググレーティングが形成された光ファイバに光源からの光を入射して得られた光の波長を計測する波長計測方法であって、波長計測用光ファイバブラッググレーティングに外力あるいは温度変化を与えてその反射光波長及び透過光波長を変化させると共に、上記被物理量計測用光ファイバブラッググレーティングからの反射光を上記波長計測用光ファイバブラッググレーティングに伝搬させて波長を計測することを特徴とする波長計測方法。

IPC (3)：

G01J 9/00 ,  G01J 3/18 ,  G01M 11/00

FI (3)：

G01J 9/00 ,  G01J 3/18 ,  G01M 11/00 T

F-Term (5)：

2G020CA12 ,  2G020CC02 ,  2G020CC22 ,  2G020CD16 ,  2G086EE06