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J-GLOBAL ID：200903000365151887

回路基板検査装置

Inventor： 五十嵐 久夫 ,  鈴木 聡
Applicant, Patent owner： ジェイエスアール株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997013355
Publication number (International publication number)：1998197591
Application date： Jan. 09, 1997
Publication date： Jul. 31, 1998
Summary：

【要約】【課題】 端子電極が高密度で格子状に配列してなる回路基板装置に対して、所要の電気的検査を確実に達成することができ、しかも、多数個の回路基板装置を効率よく検査できる回路基板検査装置を提供すること。【解決手段】 検査すべき回路基板装置の端子電極に対応するパターンに従って導電路が配置された異方導電性シートと、絶縁性の基材に導電性線材を検査すべき回路基板装置の端子電極に対応するパターンに従って配置してなるアダプターとを備えてなることを特徴とする回路基板検査装置

Claim (excerpt)：

検査すべき回路基板装置の端子電極に対応するパターンに従って導電路が配置された異方導電性シートと、絶縁性の基材に導電性線材を検査すべき回路基板装置の端子電極に対応するパターンに従って配置してなるアダプターとを備えてなることを特徴とする回路基板検査装置

IPC (3)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/073 ,  G01R 31/28

FI (3)：

G01R 31/02 ,  G01R 1/073 F ,  G01R 31/28 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平4-151564
  
• 回路基板検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-085726   Applicant：日本合成ゴム株式会社
• 特開平3-183974
  
• 特開平4-151564
  
• 特開平3-183974