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J-GLOBAL ID:200903000386067940

光情報記録装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 木村 高久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004143565
Publication number (International publication number):2005327362
Application date: May. 13, 2004
Publication date: Nov. 24, 2005
Summary:
【課題】 ストラテジと記録パターンとのずれの検出に適した光情報記録装置を提供する。【解決手段】 所定のストラテジを用いて光記録メディアにテスト記録を行い、その結果を再生して得られた2値化信号を計数し、該計数結果のヒストグラムを用いて前記2値化信号に含まれたピット長およびランド長を特定し、これらピット長およびランド長に基づいて前記記録領域から複数の再生パターンを検索抽出し、該検索により得られた再生パターン同士を比較することにより、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する。【選択図】 図2
Claim 1:
レーザ光のパルス照射により光記録メディアに情報の記録を行う光情報記録装置において、 所定のストラテジを用いて前記光記録メディアにテスト記録を行い、その結果を再生して得られた第1の再生パターンと第2の再生パターンとを比較して、前記ストラテジと前記テスト記録により形成された記録パターンとのずれを検出する手段を備えたことを特徴とする光情報記録装置。
IPC (3):
G11B7/0045 ,  G11B7/125 ,  G11B20/18
FI (8):
G11B7/0045 B ,  G11B7/125 C ,  G11B20/18 520C ,  G11B20/18 522C ,  G11B20/18 522Z ,  G11B20/18 550C ,  G11B20/18 572C ,  G11B20/18 572F
F-Term (18):
5D090AA01 ,  5D090BB03 ,  5D090BB04 ,  5D090CC01 ,  5D090CC18 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090EE02 ,  5D090HH01 ,  5D090JJ12 ,  5D090KK02 ,  5D789AA23 ,  5D789BA01 ,  5D789HA13 ,  5D789HA17 ,  5D789HA19 ,  5D789HA25 ,  5D789HA60
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
  • 光情報記録方法及びその装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-302091   Applicant:太陽誘電株式会社
  • 特開平4-137224号公報 しかし、上記各特許文献に記載された技術においては、複数存在するストラテジの設定パラメータに対してどのパラメータをどの程度調整する必要があるかの判断はできず、このために各種パラメータに対応した最適ストラテジ設定を行うことができない。
  • 情報記録装置、情報記録方法及び情報記録システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-136202   Applicant:松下電器産業株式会社
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Cited by examiner (2)

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