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J-GLOBAL ID:200903000438790069

スルーホール検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 京本 直樹 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994322668
Publication number (International publication number):1996178858
Application date: Dec. 26, 1994
Publication date: Jul. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】多層プリント基板のスルーホール微小ボイド及びスルーホール径の大小やスルーホール断線等の欠陥を高精度かつ自動的に検出する。【構成】多層プリント基板1に設けたスルーホールをハロゲン照明ランプ24とオートフォーカスCCDカメラ25でZ方向カメラコントローラー26を用いて、オートフォーカス方式により、連続的にスルーホール内のスルーホール径の大小及び微細なスルーホールボイドをスルーホールの浅部から深部迄を撮像し、画像プロセッサ28とこれを統括制御するホストコンピュータ20により、予めコンソールCRT19から入力した検査基準データとマスター情報から、即座に撮像したスルーホール2の欠陥判定を行ない、検査結果はCRTモニター29のディスプレイ上に画像として出力し、スルーホールの欠陥を確認後プリンター30にスルーホール欠陥項目名を出力する。
Claim (excerpt):
多層プリント基板のスルーホールの検査基準データとマスター情報とを入力するコンソールCRTと、このコンソールCRTによって入力された前記検査基準データと前記マスター情報とを統括制御するホストコンピュータと、前記スルーホールを深さ方向の全域にわたって撮像するオートフォーカスCCDカメラと、前記スルーホールの撮像領域を照明するハロゲン照明ランプと、撮像した前記スルーホールの欠陥判定をデータ処理する画像プロセッサと、欠陥判定された前記スルーホールの欠陥の位置を画面に出力するCRTモニターと、検査結果を出力するプリンターとを備えたことを特徴とするスルーホール検査装置。
IPC (5):
G01N 21/88 ,  G01B 11/12 ,  G01B 11/30 ,  H05K 3/42 ,  H05K 3/46
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • 特開昭59-099364
  • 特開平2-013837
  • 特開昭63-271144
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