金属試料の特性を光学的に測定する方法及び装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：平木祐輔 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001005615
Publication number (International publication number)：2002214137
Application date： Jan. 12, 2001
Publication date： Jul. 31, 2002
Summary：

【要約】【課題】金属の特性の光学的測定方法を提供する。【解決手段】金属試料Sに当該金属試料の格子振動周期より短い直線偏光した励起パルス光PUを照射し、励起パルス光の偏光方向と直交する方向に直線偏光した探査パルス光PR1を時間遅延させて金属試料の励起パルス光照射位置に照射し、光検出器Dで金属試料によって反射された探査パルス光PR2を検出する。これを遅延時間を変化させて反復することで、金属の格子振動を反映した振動プロフィールを検出する。

Claim (excerpt)：

金属試料に当該金属試料の格子振動周期より短い第1の方向に直線偏光した励起パルス光を照射する第1ステップと、前記第1の方向と直交する第2の方向に直線偏光した前記金属試料の格子振動周期より短い探査パルス光を前記励起パルス光より時間遅延させて金属試料の前記励起パルス光照射位置に照射する第2ステップと、金属試料によって反射された前記探査パルス光の前記第2の方向への偏光成分を検出する第3ステップとを含み、前記遅延時間を変化させて前記第1から第3のステップを反復し、金属試料の格子振動に関する情報を収集することを特徴とする金属試料の特性を光学的に測定する方法。

IPC (3)：

G01N 21/55 , G01N 21/21 , G01N 33/20

FI (3)：

G01N 21/55 , G01N 21/21 Z , G01N 33/20 K

F-Term (20)：

2G055AA01 , 2G055FA02 , 2G059AA03 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059DD13 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE07 , 2G059GG01 , 2G059GG04 , 2G059GG08 , 2G059JJ11 , 2G059JJ12 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059MM10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

変化した材料の特性測定に対する光技術
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-533597 Applicant：ブラウンユニバーシティーリサーチファウンデーション

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

コヒーレントフォノン分光によるイオン照射材料研究
固体におけるコヒーレントフォノン
Impulsive excitation of coherent phonons observed in reflection in bismuth and antimony.

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