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J-GLOBAL ID：200903000475255211

ケーブルの素線の配列周期把握方法、及びケーブルの形状状態測定方法、これに用いるケーブルの形状状態測定システム、ケーブルの形状状態測定プログラム

Inventor：
島田 茂樹

About 島田 茂樹


Applicant, Patent owner：
住友電気工業株式会社

About 住友電気工業株式会社


Agent (1)： 特許業務法人サンクレスト国際特許事務所
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006330625
Publication number (International publication number)：2008145175
Application date： Dec. 07, 2006
Publication date： Jun. 26, 2008
Summary：
【課題】ケーブルの軸方向の形状状態をより正確に測定することができる形状状態測定方法、及びこれに用いるケーブルの形状状態測定システム、ケーブルの形状状態測定プログラムを提供する。【解決手段】ケーブルの形状状態測定方法は、直交3方向をX,Y,Zとするとき、軸方向がX-Y平面と交差するように配置された前記ケーブルに対して透過撮影を行うことによって、X-Y平面と平行かつZ方向に所定間隔で並ぶ複数のケーブル断面の断面画像を取得する断面画像取得工程と、前記複数の断面画像それぞれに対して、走査線上における前記断面画像の明度値の分布を取得しつつ、前記走査線を前記中心点を通過する所定の基準線から前記中心点回りに全周に亘って走査することで、前記断面画像全体の明度値の分布を周方向に沿って取得する明度値分布取得工程とを備えている。【選択図】図5
Claim (excerpt)：
軸方向に所定周期で撚り束ねられた複数の素線を有するケーブルにおける前記複数の素線の周方向に対する配列周期を当該ケーブル断面の断面画像から把握する素線の配列周期把握方法であって、 前記断面画像に対して、前記断面画像から特定される前記ケーブル断面における中心点から前記ケーブル断面の径外方向に延びる走査線上における前記断面画像の明度値の分布を取得しつつ、前記走査線を前記中心点を通過する所定の基準線から前記中心点回りに全周に亘って走査することで、前記断面画像全体の明度値の分布を周方向に沿って取得し、 これにより得られる前記断面画像の周方向に対する明度値の分布に基づいて、前記ケーブルを構成する複数の素線の周方向に対する配列周期を把握することを特徴とする素線の配列周期把握方法。
IPC (1)：
G01N 23/04
FI (1)：
G01N23/04
F-Term (9)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA06 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (9)
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