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J-GLOBAL ID：200903000488171440
X線透視検査装置および方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
則近 憲佑
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993249618
Publication number (International publication number)：1995103743
Application date： Oct. 06, 1993
Publication date： Apr. 18, 1995
Summary：
【要約】【目的】 X線検出器の出力データの中の不要信号成分を除去して、関心ある信号成分を高精度で収集し、画質の向上を図ったX線透視検査装置および方法を提供する。【構成】 被検体検査時より小さな出力のX線を発生し、このX線を被検体を透過させることなくX線検出器で検出し、検出結果を蓄積し、所定のX線を発生し、このX線を被検体を透過させることなくX線検出器で検出し、この検出結果を蓄積し、この蓄積した検出結果から先の検出結果を差し引いて、この減算結果を蓄積し、上記2つの検出結果及び減算結果を基に実際のX線透過データを算出する。
Claim (excerpt)：
X線発生器から被検体に向けてX線を発生して、被検体を透過したX線をX線検出器で検出し、該X線検出器から出力される被検体透過X線検出値をデータ収集装置で収集し、データ処理装置で処理して、被検体の透視断面像を形成し被検体を検査するX線透視検査装置であって、前記データ収集装置は、被検体検査時より小さな出力のX線をX線発生器から発生し、このX線を被検体を透過させることなく前記X線検出器で検出し、この検出値をオフセットデータとして蓄積するオフセットデータ蓄積手段と、被検体検査時と異なる条件の基準X線量のX線をX線発生器から発生し、このX線を被検体を透過させることなく前記X線検出器で検出し、この検出値を不要成分混入感度データとして蓄積する不要成分混入感度データ蓄積手段と、前記不要成分混入感度データから前記オフセットデータを差し引いて、純粋感度データを算出する純粋感度データ算出手段と、前記被検体透過X線検出値から前記オフセットデータを減算して、オフセットデータ除去X線検出値を算出する減算手段と、前記オフセットデータ除去X線検出値を前記純粋感度データで除算して、実際のX線透過データを算出する除算手段とを有することを特徴とするX線透視検査装置。
IPC (2)：
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