睡眠分析装置および睡眠分析機能をコンピュータに付与するプログラム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：芝野正雅
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004140312
Publication number (International publication number)：2004358235
Application date： May. 10, 2004
Publication date： Dec. 24, 2004
Summary：

【課題】睡眠深度データを用いながらも、比較的信頼性の高い睡眠分析を簡易迅速になし得る新たな睡眠分析手法を提供する。【解決手段】出現比率変換処理部103は、RAM102に格納されている睡眠深度データ(質的変数)を読み出し、睡眠深度≧2(深睡眠:SWS)の移動出現比率n-M.A.R.(量的変数)を算出する。しかる後、評価結果算出処理部104は、算出されたSWSの移動出現比率データ(量的変数)をRAM102から読み出し、これを評価規則記憶部105中の評価規則に従って処理して当該評価要素に対する評価点を算出する。たとえば、評価要素が「寝つきのよさ」の場合、入床から上記SWSの移動出現比率n-M.A.R.が立ち上がるまでの時間をSWSの移動出現比率n-M.A.R.から検出する。そして、この立ち上がり時間の長さに応じた評価点を対応する点数テーブルから取得する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

時間軸上にプロットされた睡眠深度に関するデータから睡眠深度の出現比率に関するデータを生成するデータ生成手段と、評価要素に応じた評価規則を記憶する記憶手段と、前記データ生成手段によって生成された睡眠深度の出現比率に関するデータを前記記憶手段に記憶された評価規則に従って処理し当該評価要素に対する評価結果を算出する評価結果算出手段と、を有することを特徴とする睡眠分析装置。

IPC (1)：

A61B5/16

FI (1)：

A61B5/16 300A

F-Term (3)：

4C038PP05 , 4C038PS00 , 4C038PS03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

睡眠深度推定装置及びこれを具えた布団
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-251394 Applicant：学校法人立命館, 三洋電機株式会社

Cited by examiner (4)

睡眠周期検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-018145 Applicant：松下電器産業株式会社
睡眠段階判定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-277465 Applicant：タマティーエルオー株式会社
健康状態判定方法およびその判定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-121774 Applicant：根本新, 小林敏孝

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