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J-GLOBAL ID：200903000520721121

電流の計測方法および表面の測定装置

Inventor： 坂口 浩司 ,  岩田 太 ,  佐々木 彰 ,  長村 利彦
Applicant, Patent owner： 静岡大学長
Agent (1)： 間山 進也 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000372814
Publication number (International publication number)：2002174580
Application date： Dec. 07, 2000
Publication date： Jun. 21, 2002
Summary：

【要約】【課題】 導電性の基板に分子を結合させて電気的接合をとり、また分子に導電性の探針を接触させて、探針に電圧を印加し、探針と基板との間に流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を計測することができる電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を提供する。【解決手段】 導電性の基板に結合させた分子に導電性の探針を接触させる段階と、前記探針に電圧を印加して前記探針と前記基板との間に電流を流す段階と、前記電流を計測する段階とを含む電流の計測方法、表面の測定装置および顕微鏡装置を用いる。

Claim (excerpt)：

導電性の基板に結合させた分子に導電性の探針を接触させる段階と、前記探針に電圧を印加して前記探針と前記基板との間に電流を流す段階と、前記電流を計測する段階とを含む、電流の計測方法。

IPC (2)：

G01N 13/12 ,  G01B 7/34

FI (3)：

G01N 13/12 A ,  G01N 13/12 D ,  G01B 7/34 Z

F-Term (19)：

2F063AA43 ,  2F063BA30 ,  2F063BB08 ,  2F063BC09 ,  2F063CA40 ,  2F063DA02 ,  2F063DA05 ,  2F063DB05 ,  2F063DD02 ,  2F063EA16 ,  2F063EB15 ,  2F063EB23 ,  2F063FA07 ,  2F063JA04 ,  2F063LA11 ,  2F063LA13 ,  2F063LA23 ,  2F063LA26 ,  2F063MA05