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J-GLOBAL ID：200903000565829918

ラマン散乱測定センサ及びその製造方法

Inventor： 佐藤 治 ,  顧 忠沢 ,  藤嶋 昭
Applicant, Patent owner： 財団法人神奈川科学技術アカデミー
Agent (4)： 八木田 茂 ,  浜野 孝雄 ,  森田 哲二 ,  平井 輝一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002338921
Publication number (International publication number)：2004170334
Application date： Nov. 22, 2002
Publication date： Jun. 17, 2004
Summary：

【課題】ラマン散乱に対する高い増強効果をもち、かつ、一様性及び再現性があり、さらに、非常に簡単にかつ安価に製造することができるラマン散乱測定センサ及びその製造方法を提供すること。【解決手段】本発明に係るラマン散乱測定センサは、基板上に、表面に金属をコーティングした複数の同形同寸の粒子を少なくとも各粒子間にラマン散乱を測定すべき物質が入り得る隙間を有し、かつ、粒子層の表面に周期的な凹凸を形成できるように周期的に配列した粒子層を備えていることを特徴とする。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

基板上に、表面に金属をコーティングした複数の同形同寸の粒子を少なくとも各粒子間にラマン散乱を測定すべき物質が入り得る隙間を有し、かつ、粒子層の表面に周期的な凹凸を形成できるように周期的に配列した粒子層を備えている ことを特徴とするラマン散乱測定センサ。

IPC (1)：

G01N21/65

FI (1)：

G01N21/65

F-Term (7)：

2G043EA03 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB16 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05