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J-GLOBAL ID：200903000570510423
光学的ガス濃度計測方法およびその装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993151572
Publication number (International publication number)：1994341950
Application date： May. 29, 1993
Publication date： Dec. 13, 1994
Summary：
【要約】【目的】 精度の高い定容量サンプリングが可能で、ハングアップ現象を極減しうる構成簡易な光学的ガス濃度計測方法およびその装置を提供する。【構成】 希釈サンプルガスの定容量採取ライン29におけるベンチュリ管30よりも上流側の部位の両側に、希釈サンプルガスの流れ方向と交差するように赤外光を通過させることのできる入射窓33と出射窓34とを相互に対向させて開設し、その入射窓33側に赤外光照射光源4を設ける一方、前記出射窓34側には希釈サンプルガスを透過した赤外光を受光する検出器3を設けている。
Claim (excerpt)：
希釈サンプルガスの定容量採取ラインにおけるベンチュリ管よりも上流側の部位でその流れ方向と交差するように赤外光を透過させ、その透過後の赤外光を受光してサンプルガスの濃度を演算することを特徴とする光学的ガス濃度計測方法。
IPC (3)：
G01N 21/35
, G01N 1/22
, G01N 21/61
