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J-GLOBAL ID：200903000574528009

音環境解析方法

Inventor： 酒井 麻友美 ,  長光 左千男 ,  児玉 久
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992274247
Publication number (International publication number)：1994123653
Application date： Oct. 13, 1992
Publication date： May. 06, 1994
Summary：

【要約】【目的】 什器等が存在する複雑な解析空間において、低音域を含めて広範囲の音域にわたって高性能な音響解析が可能な、音環境方法を提供する。【構成】 解析対象の解析空間を構成する面をいくつかの面に分割し、前記解析空間の所定の音源より音線を所定の本数放射し、分割された各面の中から、各音線の到達する面を探索し、前記所定の音源からその面に到達する音の割合(以後、形態係数と記す)を求め、その面に到達する音量を計算し、さらに、前記各面の到達音量を音源として、上述のようにして新たに音源とした面から各面への形態係数を求め、各面に到達する音量を計算し、このようなことを繰り返すことによって、前記所定の音源からいくつかの分割面を経て所定の受音点に到達する音量を求めることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

解析対象の解析空間を構成する面をいくつかの面に分割し、前記解析空間の所定の音源より音線を所定の本数放射し、分割された各面の中から、各音線の到達する面を探索し、前記所定の音源からその面に到達する音の割合(以後、形態係数と記す)を求め、その面に到達する音量を計算し、さらに、前記各面の到達音量を音源として、上述のようにして新たに音源とした面から各面への形態係数を求め、各面に到達する音量を計算し、このようなことを繰り返すことによって、前記所定の音源からいくつかの分割面を経て所定の受音点に到達する音量を求めることを特徴とする音環境解析方法。

IPC (5)：

G01H 3/00 ,  G01H 3/10 ,  G01H 17/00 ,  G06F 15/20 ,  G10K 15/00