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J-GLOBAL ID：200903000648843122
光学式変位センサ
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992134010
Publication number (International publication number)：1993322559
Application date： May. 26, 1992
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】受光手段での受光光量が不足していることや過剰であるときに光量が異常であることを報知することができる光学式変位センサを提供する。【構成】投光素子11は物体の表面に点状の光パターンを形成する。物体の表面での反射光は受光光学系15を通してPSDよりなる位置センサ14に入射する。位置センサ14の出力信号は信号処理部21に入力されて物体までの距離が求められる。信号処理部21は、位置センサ14の両出力信号の和が第1の閾値であるダークカットレベル以下であるか、両出力信号のうちの少なくとも一方が第2の閾値であるブライトカットレベル以上であると、光量異常信号を発生する。光量異常信号が発生すると、測定結果が誤りであると判断できる。
Claim (excerpt)：
点状の光パターンである投光スポットを物体の表面に照射する投光手段と、投光手段から照射された光の物体表面での反射光を受光光学系に通して収束させ投光スポットの像として形成された受光スポットの位置に対応して出力値の比率が決まる一対の位置信号を出力する受光手段と、各位置信号に基づいて物体までの距離を演算する演算手段とを備えた光学式変位センサにおいて、位置信号は受光光量の増加に伴って出力値が増加する電気信号であって、両位置信号の出力値の和に対する第1の閾値と各位置信号の出力値に対する第2の閾値とを設定した受光光量判定手段を設け、受光光量判定手段は、両位置信号の出力値の和が第1の閾値以下であるか、両位置信号の出力値のうちの少なくとも一方が第2の閾値以上であるときに、誤測定が生じる受光光量であることを示す光量異常信号を発生することを特徴とする光学式変位センサ。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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