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J-GLOBAL ID：200903000654765451

単一記号エラーと単一ビット・エラー検出のためのエラー訂正方法及び装置

Inventor： チン-ロン・チェン
Applicant, Patent owner： インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
Agent (1)： 合田 潔 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994122178
Publication number (International publication number)：1995036717
Application date： Jun. 03, 1994
Publication date： Feb. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 メモリ・アレイの信頼性を向上する。【構成】 本発明の好適な実施例によれば、大きなクラスのコードに対応するタイプIIの2進パリティ・チェック・マトリクスを、1チップ当たり多重ビット出力アーキテクチャを使用するメモリ・システムにおけるエラー検出及び訂正により好適な、より大きなパリティ・チェック・マトリクスに変換する機構が提供される。より詳細には、本符号化方法はタイプIIコードで求められるよりは少ないが、タイプIコードの場合よりは多いチェック・ビット要求を示すコードを提供する。特に本発明のコードは、単一記号エラーの全ての組合わせ及び単一ビット・エラーを検出することができる。更に本発明のコードはタイプIコードにおける全ての訂正及び検出特性を示すが、全ての単一記号エラーを訂正可能で、全てのダブル記号エラーを検出可能なタイプIIコードの機能または複雑化を生じない。特に、本発明は、ある記号ビット・グループからの記号エラー及び異なる記号からの別のエラーが存在する状況において発生するタイプIコードの弱点を回避する。

Claim (excerpt)：

各々がMビットのS個のサブブロックを有するNビットのブロック内で発生する2進データの符号化方法であって、前記Nビット・データを2進パリティ・チェック・マトリクスHにより決定されるパリティ・チェック条件に掛けるステップと、マトリクスHを2進マトリクスH*から導出し、前記マトリクスH*はタイプIIコードを表し、M×MサブマトリクスをP行及びS列に配列し、前記P行の第1行がM×M識別マトリクスであり、他の行のM×MマトリクスはM×Mゼロ・マトリクス、M×M識別マトリクス、及びM×MマトリクスTi を含み、ここでiは負でない指数を示し、Tはガロイス・フィールドGF(2)上のM次の原始2進多項式p(x)に関連するコンパニオン・マトリクスであり、前記HマトリクスをSb列及びMP+(b-M)行を有するマトリクスを生成するために前記H*マトリクスから導出するステップであって、前記導出ステップが、(1)前記マトリクスの前記第1行内のM×M識別マトリクスをb×b識別マトリクスにより置換するステップと、(2)前記M×Mゼロ・マトリクスをM×bゼロ・マトリクスにより置換するステップと、(3)前記M×MマトリクスTi をM×b増補マトリクスにより置換するステップとを含み、j番目列は多項式Xi+j-1 モジュロp(x)のベクトルである、前記導出ステップと、を含む方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-079530
  
• 特開昭62-050943