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J-GLOBAL ID：200903000684270724

自己調整方法

Inventor：
佐藤 哲哉

About 佐藤 哲哉


Applicant, Patent owner：
富士通テン株式会社

About 富士通テン株式会社


Agent (1)： 石田 敬 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996331145
Publication number (International publication number)：1998172156
Application date： Dec. 11, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：
【要約】【課題】 デイスク毎にサーボ機構のゲインを調整できる自己調整方法を得る。【解決手段】 デイスク状媒体を用いて記録及び/又は再生する装置のサーボ機構のゲインを自己調整する際、駆動時にデイスク毎にゲインを測定し、該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較し、比較結果に基づきゲインを決める調整値を設定する。測定値が前記目標範囲または目標値にならない場合、所定の回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返してこれら測定値及び設定値を記憶し、前記所定の回数の測定値の内最も目標範囲または目標値に近い測定値を与えた調整値を当該デイスクの調整値として設定する。
Claim (excerpt)：
駆動時にデイスク毎にゲインを測定し、該測定値をゲインの目標範囲または目標値と比較し、比較結果に基づきゲインを決める調整値を設定する、デイスク状媒体を用いて記録及び/又は再生する装置のサーボ機構のゲインを自己調整する方法において、前記測定値が前記目標範囲または目標値にならない場合、所定の回数ゲインの測定及び調整値の設定を繰り返してこれら測定値及び設定値を記憶し、前記所定の回数の測定値の内目標範囲または目標値に最も近い測定値を与えた調整値を当該デイスクの調整値として設定する自己調整方法。
IPC (6)：
G11B 7/09 ,  G05B 11/36 ,  G05B 13/02 ,  G11B 7/00 ,  G11B 19/12 501 ,  G11B 21/10
FI (6)：
G11B 7/09 A ,  G05B 11/36 C ,  G05B 13/02 B ,  G11B 7/00 Q ,  G11B 19/12 501 N ,  G11B 21/10 R
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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