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J-GLOBAL ID:200903000725661172
軸状磁性部材の磁気探傷装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
大川 宏
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998248500
Publication number (International publication number):2000074885
Application date: Sep. 02, 1998
Publication date: Mar. 14, 2000
Summary:
【要約】【課題】検査装置の構造や検査作業の複雑化を防止しつつ被検査部材をなす軸状磁性部材の利用率の向上を実現した軸状磁性部材の磁気探傷装置を提供すること。【解決手段】軸状磁性部材1の一端が検出アセンブリ2に相対回転しつつ軸方向に接近して接触することにより生じる疑似信号電圧の主要周波数成分を傷に関する信号電圧から除去することにより、従来、検査不能として利用できなかった軸状磁性部材の端部を有効利用する。
Claim (excerpt):
被検査部材としての軸状磁性部材の外周面を交流磁化するとともに前記軸状磁性部材の外周面の表面部の傷による磁界変化を電気的に検出する検出アセンブリ、及び、前記検出アセンブリの出力電圧から前記軸状磁性部材の表面部の傷に関する信号電圧を抽出する傷信号抽出手段を備え、前記検出アセンブリは、前記検出アセンブリを被検査部材としての軸状磁性部材の外周面に沿って相対回転させつつ軸方向へ相対変位させることにより前記検出アセンブリにより前記軸状磁性部材の外周面を相対的に面走査する軸状磁性部材の磁気探傷装置において、前記傷信号抽出手段は、前記軸状磁性部材の一端が前記検出アセンブリに軸方向に接近して接触することにより生じる疑似信号電圧の主要周波数成分を前記傷に関する信号電圧から除去することを特徴とする軸状磁性部材の磁気探傷装置。
F-Term (13):
2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BA13
, 2G053BB03
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CB12
, 2G053CB24
, 2G053DA01
, 2G053DB20
, 2G053DB21
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