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J-GLOBAL ID：200903000741933840

磁気ヘッドの検査方法

Inventor： 鈴木 竜也
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006272476
Publication number (International publication number)：2008090968
Application date： Oct. 04, 2006
Publication date： Apr. 17, 2008
Summary：

【課題】HDD用磁気ヘッドの磁気記録再生のパラメータが変わったことによる信号波形形状が安定しない物などを除去し、HDDの製造歩留まりを向上することのできる磁気ヘッドの検査方法を提供する。【解決手段】第1のテスト信号を書き込む工程S100と、信号非対称比を計測する工程S101と、第2のテスト信号の記録電流値、第2のテスト信号の記録電流の周波数、磁気抵抗効果型ヘッド1bのバイアス電流値を複数回変更する工程S103と、前記工程S102と前記工程S103を複数回繰り返す工程S104を実施することにより、磁気ヘッドの出力信号の波形形状が安定しない物などを除去し、HDDの製造歩留まりを向上させ、HDDの信頼性を確保することができる。【選択図】図3

Claim 1：

磁気記録媒体に情報を記録する記録素子と、前記磁気記録媒体の情報を読み出す再生素子をもつ磁気ヘッドにて、第1のテスト信号を、前記磁気記録媒体上に少なくとも1トラック分記録する第1の工程と、 前記トラックをi個の領域に分割し、第2のテスト信号を前記領域の先頭から所定の時間記録し、前記再生素子にて前記第1のテスト信号を所定時間再生し、信号非対称比を測定する第2の工程と、 前記再生素子に印加するバイアス電流の電流値を所定値に変更し、第2の工程を所定回数繰り返す第3の工程と、 前記第2のテスト信号の記録電流を所定値に変更し、第2の工程を所定回数繰り返す第4の工程と、 前記第2のテスト信号周波数を所定値に変更し、第2の工程を所定回数繰り返す第5の工程と、 前記第2の工程、前記第3の工程、前記第4の工程、及び前記第5の工程を所定回数繰り返す第6の工程と、 前記信号非対称比よりヘッド良否判定信号を演算する第7の工程と、 前記ヘッド良否判別信号にて前記磁気ヘッドの良否判定を行う第8の工程と、 からなる磁気ヘッドの検査方法

IPC (1)：

G11B 5/455

FI (1)：

G11B5/455 D

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 磁気ヘッドのウイグル特性検査方法および検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-052258   Applicant：日立電子エンジニアリング株式会社
• 磁気ヘッドの波形変動検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-107647   Applicant：日本電気株式会社