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J-GLOBAL ID:200903000741938451

マルチスケール解析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 大菅 義之 ,  久木元 彰
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005190157
Publication number (International publication number):2007011601
Application date: Jun. 29, 2005
Publication date: Jan. 18, 2007
Summary:
【課題】 有限要素法を用いたズーミング解析のプログラムを大幅に変更することなく、得られる解析結果の精度を向上させる。【解決手段】 解析装置は、構造体のグローバル解析を実施し(ステップ401)、グローバルモデルの各要素のひずみから各節点のひずみを計算する(ステップ402)。次に、各節点のひずみから、ミクロモデルの各節点における変位を表す2次関数の2次係数を計算し(ステップ403)、グローバルモデルの各節点の変位から定数項および1次係数を計算する(ステップ404)。そして、この2次関数を用いてミクロモデルの各境界節点における変位を計算し(ステップ405)、ミクロ解析を実施する(ステップ406)。【選択図】図4
Claim (excerpt):
構造体のグローバル構造からミクロ構造への有限要素解析を実行するマルチスケール解析装置であって、 前記構造体をメッシュ分割したグローバルモデルの有限要素解析結果における各節点の座標および変位と各要素のひずみの情報を格納する解析結果格納手段と、 前記構造体を前記グローバルモデルより細かくメッシュ分割したミクロモデルの各節点の変位を座標の2次関数として表したとき、該グローバルモデルの各節点の座標および変位から該2次関数の定数項および1次係数を求める第1の計算式を格納する第1の計算式格納手段と、 前記グローバルモデルの各節点の座標およびひずみから該2次関数の2次係数を求める第2の計算式を格納する第2の計算式格納手段と、 前記グローバルモデルの各節点のひずみを、該節点の周囲に存在する複数の要素のひずみから計算するひずみ計算手段と、 得られた各節点のひずみの情報を格納するひずみ格納手段と、 前記第1の計算式を用いて、前記グローバルモデルの各節点の座標および変位から前記定数項および1次係数を計算し、前記第2の計算式を用いて、前記グローバルモデルの各節点の座標と前記ひずみ格納手段に格納された各節点のひずみから前記2次係数を計算し、得られた定数項、1次係数、および2次係数を用いて、前記ミクロモデルの各境界節点の変位を計算する変位計算手段と、 得られた各境界節点の変位の情報を格納する変位格納手段と、 前記変位格納手段に格納された各境界節点の変位を前記ミクロモデルの境界条件として用いて、該ミクロモデルの有限要素解析を実行し、解析結果を出力する解析手段と を備えることを特徴とするマルチスケール解析装置。
IPC (1):
G06F 17/50
FI (2):
G06F17/50 612H ,  G06F17/50 612J
F-Term (3):
5B046AA04 ,  5B046AA07 ,  5B046JA08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
Article cited by the Patent:
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