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J-GLOBAL ID：200903000853184794
立体物検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993079298
Publication number (International publication number)：1994288734
Application date： Apr. 06, 1993
Publication date： Oct. 18, 1994
Summary：
【要約】【目的】 立体物の内面や外面を自動的に検査可能な立体物検査装置を提供する。【構成】 回転軸1と、その回転軸1を支持する支持体2と、回転軸1に沿って上下動する移動体3と、その移動体3に回転軸1と直交する方向に支持された支持アーム4と、その支持アーム4先端に取り付けられ画像信号を出力するカメラ5と、支持アーム4を回転軸1を中心に回転駆動させる回転駆動部3と、移動体3、回転駆動部3及びカメラ5を駆動制御し、画像信号を送信する駆動制御部6と、を備える。
Claim (excerpt)：
回転軸と、その回転軸を支持する支持体と、前記回転軸に沿って上下動する移動体と、その移動体に前記回転軸と直交する方向に支持された支持アームと、その支持アーム先端に取り付けられ撮像信号を出力するカメラと、前記支持アームを前記回転軸を中心に回転駆動させる回転駆動部と、前記移動体、前記回転駆動部及び前記カメラを駆動制御し、前記撮像信号を送信する駆動制御部と、を備えることを特徴とする立体物検査装置。
IPC (4)：
G01B 11/24
, G01B 11/30
, G01N 21/88
, H04N 7/18
